Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps

　　Ux-720高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。三重射线防护系统（软件、硬件、迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。

　　镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

　　Ux-720微动平台

　　载物测试平台，微调装置在仪器右侧，通过旋转按钮来调节样品的移动，移动范围为X轴和Y轴各15mm。结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行定位，防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致测试不准确。