X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　Ux-720 性能优势

　　1.的VisualFp基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行测试。

　　2.除可对金属镀层测试外，还可对合金镀层、铝合金镀层、玻璃镀层、塑料镀层进行测量，开创了XRF对镀层测厚的全面技术。

　　3.软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度。

　　4.业内提供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做的镀层分析工作曲线。

　　5.三重射线防护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害。

　　6.仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性。

　　7.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。

　　8.业内家对达克罗涂覆工艺厚度分析的软件方法，取代金相显微镜技术在该行业的应用。

　　9.软件对多次测试结果进行统计分析功能。

　　10.业内家既可以测试镀层厚度，又可以同时分析基材及镀层成分的XRF。

　　Ux-720高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。三重射线防护系统（软件、硬件、迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。

　　Ux-720滤光系统和准直系统

　　滤光系统采用金属薄片滤光技术，5种不同材质滤光片自动切换。

　　准直系统采用微孔准直技术, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四种孔径自动切换。

　　滤光系统和准直系统经过自由组合达到测试效果。