Ux-720 仪器技术指标

　　1、分析元素范围：Na-U

　　2、检测成分范围：%

　　3、检测厚度：1nm

　　4、检测厚度上限，30 - 50um（视材料而定）

　　5、检测镀层层数：1-10层

　　6、测量时间 ：30-150s ( 系统自动调整 )

　　7、分辨率：145±5eV

　　8、准直器：Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

　　9、滤光片：5种滤光片自动切换

　　10、CCD观察：260万像素高清CCD

　　11、样品微动范围：XY15mm

　　12、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

　　13、样品腔尺寸：300*360*100mm；

　　14、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

　　15、额定功率：350W

　　16、重量：约45Kg

　　17、工作环境温度：温度15—30℃

　　18、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

　　19、稳定性:多次测量重复性误差小于%

　　Ux-720功能特点

　　1. 预置多条工作曲线，涵盖铜基体、铁基体、锌基体等基体类型的常见镀层，可满足用户常规镀层测量的要求；

　　2. 华唯VisualFp基本参数法分析软件，在分析镀层厚度的同时分析基材及镀层成分含量，实用价值大大超出客户的想象空间；

　　3. 人性化的软件界面与操作方法，使用图形显示技术，既方便又直观；结合大量操作经验优化操作步骤，极大方便用户；

　　4. 完善的安全连锁功能：配合硬件电路的防护措施，在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受X射线伤害；

　　5. 数据管理：由数据库支持的专业化报表生成、查询打印等功能极大方便企业管理；

　　6. 智能化软件保护，避免不当操作对光谱仪的损伤，延长仪器使用寿命；

　　7. 数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；

　　8. 稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动检测；

　　9. 软件具有对多次测试结果的统计功能，极大地方便管理。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。