随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　Ux-720 性能优势

　　1.的VisualFp基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行测试。

　　2.除可对金属镀层测试外，还可对合金镀层、铝合金镀层、玻璃镀层、塑料镀层进行测量，开创了XRF对镀层测厚的全面技术。

　　3.软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度。

　　4.业内提供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做的镀层分析工作曲线。

　　5.三重射线防护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害。

　　6.仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性。

　　7.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。

　　8.业内家对达克罗涂覆工艺厚度分析的软件方法，取代金相显微镜技术在该行业的应用。

　　9.软件对多次测试结果进行统计分析功能。

　　10.业内家既可以测试镀层厚度，又可以同时分析基材及镀层成分的XRF。

　　Ux-720滤光系统和准直系统

　　滤光系统采用金属薄片滤光技术，5种不同材质滤光片自动切换。

　　准直系统采用微孔准直技术, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四种孔径自动切换。

　　滤光系统和准直系统经过自由组合达到测试效果。