原子吸收光谱中的光谱干扰及其抑制

原子吸收光谱分析中的光谱干扰主要有谱线干扰和背景干扰两种。
1)谱线干扰及其抑制
谱线干扰是指单色器光谱通带内除元素吸收线外，还进入了发射线的邻近线或其他吸收线，使分析方法的灵敏度和准确度下降。发射线的邻近线的干扰主要是指空心阴极灯的元素、杂质或载气元素的发射线与待测元素共振吸收线的重叠干扰；其他吸收线的干扰主要是指试样中共存元素吸收线与待测元素共振线的重叠干扰。
谱线干扰的抑制通常是减小单色器的光谱通带宽度即减小狭缝宽度，提高仪器的分辨率，使元素的共振吸收线与干扰曲线分开。根据具体情况还可采用以下方法抑制光谱干扰，如降低灯电流，选择无干扰的其他吸收线，选用高纯度单元素的空心阴极灯，分离共存的干扰元素等。
2)背景干扰及其抑制
背景吸收也属于光谱干扰，包括两部分：分子吸收和光散射
(1)分子吸收与光散射。
分子吸收是指在原子化过程中所产生的无机分子或自由基对空心阴极灯发射的特征谱线的吸收，它属于带状光谱，带宽为20～100 nm。而原子吸收光谱是线状光谱，带宽10^-3 nm。分子吸收在一定的波长范围内对原子吸收产生光谱干扰。光谱散射是指在原子化过程中所产生的微小颗粒物对特征谱线的散射，其作用使吸光度增大。分子吸收与光散射都会使待测元素的吸光度增大，产生正误差。
(2)光谱背景干扰的抑制和校正。
a．光谱背景干扰的抑制：在实际工作中，多采用改变火焰类型、燃助比和调节火焰测区高度来抑制分子吸收干扰；在石墨炉原子吸收光谱分析中，常选用适当基体改进，采用选择性挥发来抑制分子吸收的干扰。
b．光谱背景的校正：在原子光谱分析中，一般采用仪器校正背景吸收方法，有氘灯背景校正、塞曼效应背景校正、谱线自吸收背景校正、邻近非吸收谱线背景校正技术。

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