原子发射光谱谱线强度及其影响因素

谱线强度是单位时间内从光源辐射出某波长光能的多少，即某波长的光辐射功率的大。如果以照像谱片而言，谱线强度指在单位时间内，在相应的位置上感光乳剂共吸收了多少某波长的光能。
谱线的强度与激发电位、温度、处于基态的粒子数、跃迁概率、统计权重有关。
1．激发电位与电离电位
谱线强度与原子（或离子）的激发电位是负指数关系，当N0、T一定时，激发电位越低，越易激发，Ni越多，谱线强度越大。实验证明，绝大多数激发电位和电离电位较低的谱线是比较强的，共振线激发电位，所以其强度往往。每一元素的主共振线的激发电位最小，强度；每条谱线都对应一个激发电位，反映谱线出现所需的能量。
2．跃迁几率
跃迁几率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的概率，可通过实验数据计算得到，一般人的数值为10^6-10^9s^-1。自发发射跃迁几率与激发态原子平均寿命成反比，与谱线强度成正比。
3．统计权重
统计权重又称简并度，指能级在外加磁场的作用下，可分裂为2J+1个能级，谱线强度与统计权重成正比。当由两个不同J值的高能级向低能级跃迁时，产生的谱线强度也是不同的。
4．激发温度
温度升高，谱线强度(I)增大。但温度升高，体系中被电离的原子数数目也增多，而中性原子数则相应减少，致使原子线强度减弱。所以温度不仅影响原子的激发过程，还影响原子的电离避程。在较低温度时，随着温度的升高，谱线强度增加。但超过某—温度后，随着电离的增加，原子线：的强度逐渐降低，离线的强度不继续增强。温度再升高，一级离子线的强度也下降。在实验中，应选择适当的激发温度。
5．基态原子数
谱线强度与基态原子密度N0成正比，而在一定条件下No与试样中元素含量c成正比。

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