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电阻率四探针测试仪 型号:HAD-WSP-51

2025年02月05日 10:20:38      来源:北京恒奥德科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:20

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电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号:HAD-WSP-51

基本技术参数

1. 测量范围、分辨率

电 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω

电 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm

方块电阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□

2. 可测半导体材料尺寸(手持式)

直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

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