GYB-300型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762-92 引伸计检定规程及JJF1096-2002引伸计标定器校准规范的要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。本仪器还为专门定货，可加长标距范围，其性能以及精度指标不变。

一、结构特点及读数方式

1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便的进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专业配件进行精密微变形量计量。

精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25mm；最小分度(游标分度)0.0002mm；旋转外筒分度0.002mm。位移变化读数为：L=(a+0.001b+0.0001c)-(a.+0.001b.+0.001c.)其中：a一内筒毫米刻线读数b一外筒刻线读数c一游标刻线读数anbCo为相应位移变化前读数

二、各项技术指标

1、测量引伸计标距范围Lmax 200mm

2、测量支座上支臂安装孔径 Φ10；Φ28

3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5mm/格

4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002mm/格

5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002mm/格

6、高精密微分测头精度示值误差指标

量程0.5mm以内≤0.5um 误差

量程0.5mm以上≤0.10% 逐点相对误差

三、参照标准：

JJF 1096-2002 引伸计标定器校准规范

ISO 9513：1999 金属材料单轴试验用引伸计的标定

JJG 762-1992 引伸计检定规程

可进行0.5级引伸计的标定

四、使用说明

请依据JJG 762-92引伸计检定规程及JJF 1096-2002引伸计标定器校准规范的要求，进行引伸计的检定：

1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格，选择与测试试样基本一致的分离试样。

2、调整两测量支臂的位置，获得适宜的检定空间；调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样保证同轴；调整测微头与下底座的距离，以保证测微头的有效行程。一切调整好后注意旋紧各个所需固紧部位，在检定过程中除准许运动位移的部分外，都不准许有任何滑动或松动。

3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试：

(1)检定范围应根据引伸计需要测试材料的技术参数决定。例如，使用50mm标距引伸计测试钢材试样的P0.2技术数据，那么请您选择1mm的检定量程。如果测量n值则需要检定25mm的检定量程。

(2)对检定点的选择，一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1mm的检定量程内，检定10点，即每0.1mm检一点

(3)检定引伸计时一定用整数刻度倍读法，不要用游标估算读数或小数尾数读数，因为每一次的十点读数已造成了读数的疲劳，估算读数或小数尾数读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法最清晰简单准确，出现误差的机率最小，即便出现也会及时发现，因为整数刻度倍读数的误差，其引伸计误差值也会成倍数增加，这种粗大误差会被很快及时发现。

4、加长立柱的使用：在使用基本立柱检定引伸计时，无法保证该引伸计的标距空间时，取掉基本立柱上保护帽，将加长立柱插入主立柱对准Ⅴ型槽，旋紧上螺帽。一定要固紧后，方可使用。

五、配件、维护与保养

随本仪器配有测量附件

1、组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。

2、刀片4件。装置于组合校准杆上：用于COD或JIC夹规检定。

3、横试片2件。装置于组合校准杆上：用于横向引伸计的检定。

4、板件2件。装置于组合校准杆上：用于模拟板材试样的检定。

5、Φ10×100杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10mm以上直径试样的检定。

6、Φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10mm以上直径试样的检定。

7、Φ10/中5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。

8、Φ10/中5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。

9、170mm加长立柱1件。用于延长标定仪高度。

10、联接套1件。置于微分测头滑动量杆Φ10端头上，连接分离试样进行检定。

11、为调试及安装方便，随仪器配有14号呆扳手一把、3号内六角扳手一把、一字头、十字头螺丝刀各一把。