随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。

一、 x射线荧光分析基本原理

所谓荧光，就是在光的照射下发出的光。x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。这种方法是将一束初级x射线照射被分析的样品，使样品中的每种元素的原子都发射出各自特征的x射线荧光。于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱(或者说x射线光子多少)则代表该元素的含量。

二、x射线荧光分析仪的分类

1.根据分光方式的不同，x射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪。通过测定荧光x射线的能量实现对被测样品分析的方式称之为能量色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光x射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

2.根据激发方式的不同，x射线荧光分析可分为源激发和管激发两种：用放射性同位素源发出的x射线作为原级x射线的x射线荧光分析仪称为源激发仪器，其特点是体积较小、结构简单，价格低廉；用x射线发生器(又称x光管)产生原级x射线的x射线荧光分析仪称为管激发仪器，特点是体积较大、输出强度高且可调，价格也较昂贵。以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。

误区1：强调“荧光”

过分迷信依赖大型仪器。许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用x光管还是采用放射性同位素作为激发源，只要是由x射线激发，通过测定被测样品发出的荧光x射线得出其化学成分及含量的仪器，都是x荧光分析仪。

误区2：重硬件轻软件和技术

任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及仪器应用的每一个环节。

误区3：重价格轻服务

价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于x荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试备品备件供应维修服务等，更为重要的是应用技术服务。

误区4：片面追求准确度忽视精密度

不重视稳定性和重现性。准确性固然重要，精密度也决不可忽视，首先要关注的是精密度问题，也就是说，同一样品多次测量，其结果应有良好的一致性，每一测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统误差，是可以进行数学校正的。

此外，还应重视仪器的稳定性和重现性。所谓稳定性是指同一样品连续测量多次(通常为21次)的标准偏差；而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果间的一致性。这两项指标也是x射线荧光分析仪器的重要指标，我们常说的准确测量必须是建立在稳定性和重复性基础之上的。

误区5：分析时间越短越好

X射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的量取决于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量精度的前提条件，为了保证测量精度，必须有足够的测量时间以及足够的计数率。