脉冲测试仪是一种能够削减器材总能耗的丈量技能。它通过削减焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器材可能形成的损坏。脉冲测试仪采用足够高的电源对待测器材（DUT）施加间隔很短的脉冲，发生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

　　通过脉冲测试仪，工程技能人员可以获得更多的器材信息，更准确地分析和掌握器材的行为特征。例如，使用脉冲测试仪技能可以对纳米器材进行瞬态测验，确定其搬运函数，然后分析待测资料的特征。脉冲测试仪丈量关于具有恒温限制的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和纳米器材，可以避免自热效应，避免自热效应掩盖研讨人员所关怀的呼应特征。

　　器材工程师还可以使用脉冲测试仪技能分析电荷抓获效应。在晶体管开启后电荷抓获效应会降低漏极电流。随着电荷逐步被抓获到栅介质中，晶体管的阈值电压由于栅电容内建电压的升高而增大；然后漏极电流就降低了。

　　脉冲测试仪为人们和研讨纳米材料、纳米电子和目前的半导体器材供给了一种重要手法。脉冲测试仪有两种不同的类型：加电压脉冲和加电流脉冲。

　　电压脉冲测试仪发生的脉冲宽度比电流脉冲测试仪窄得多。这一特性使得电压脉冲测试仪更适合于热传输实验，其中咱们所关怀的时间窗口只要几百纳秒。电流脉冲测试仪与电压脉冲测试仪十分类似。