经过脉冲测试，工程技术人员可以获得更多的器材信息，更准确地分析和掌握器材的行为特征。例如，使用脉冲测试技术可以对纳米器材进行瞬态测试，确认其搬运函数，然后分析待测材料的特征。

　　脉冲测试仪的测量对于具有恒温限制的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和纳米器材，可以防止自热效应，防止自热效应掩盖研讨人员所关怀的呼应特征。器材工程师还可以使用脉冲测试技术分析电荷抓获效应。在晶体管开启后电荷抓获效应会降低漏极电流。随着电荷逐步被抓获到栅介质中，晶体管的阈值电压由于栅电容内建电压的升高而增大；然后漏极电流就降低了。

　　脉冲测试仪为人们和研讨纳米材料、纳米电子和现在的半导体器材供给了一种重要手法。脉冲测试有两种不同的类型：加电压脉冲和加电流脉冲。

　　电压脉冲测试发生的脉冲宽度比电流脉冲测试窄得多。这一特性使得电压脉冲测试更适合于热传输实验，其间我们所关怀的时间窗口只要几百纳秒。经过高精度的幅值和可编程的上升与降低时间能够控制纳米器材上的能耗巨细。电压脉冲测试可用于可靠性测试中的瞬态分析、电荷抓获和交流应力测试，也可用于发生时钟信号，模拟重复控制线，例如存储器读写周期。

　　电流脉冲测试与电压脉冲测试十分类似。其间，将的电流脉冲加载到DUT上，然后测量器材两头发生的电压。电流脉冲测试常用于测量较低的电阻，或许获取器材的I-V特征曲线，而不会使DUT发生大量的能耗，防止对纳米器材的危害或破坏。