测量离型膜上的硅涂布量是生产过程中质量控制的一个重要方面。如果涂覆的硅太少，则粘合层将地粘在基底上，而涂覆过多则会增加生产成本，且不会进一步提高产品质量。为了控制硅涂层厚度，行业通常使用台式X射线荧光（XRF）分析仪，例如，日立LAB-X5000硅涂布量测试仪，因为这些分析仪可提供经济、高效、可靠的无损分析。使用这些分析仪，操作员可快速调整生产过程，并有助于降低材料成本，同时*大限度地提高产量。

LAB-X5000的六大优势：

1、方便：一次校准即可适用于所有纸张类型

使用LAB-X5000，可将玻璃纸校准用于其他纸张类型，包括粘土涂层纸张，而不会有损精确度。在用标准玻璃纸进行单次校准后，当移动到新的纸张类型（或新的纸卷）时，您只需测量新类型纸张的无涂层“空白”。测量涂层样品以及对新基底进行自动补偿时，XRF设备使用这一测量值作为“校正因子”。

2、具有成本效益：无需氦气

XRF设备通常使用氦气来确保测量硅（Si）等轻元素的稳定性。LAB-X5000包含智能功能，可自动补偿大气温度和压力的变化（否则会影响结果），并提供可靠结果，不需要氦气。这意味着获得、储存和使用氦气的成本和困难消除。

3、可靠结果：自动针对潜在不均匀涂层表面获得平均结果

硅层涂覆工艺并非99%，并且可能出现涂层纸张上硅厚度的微小变化。此外，XRF分析仪通常只测量纸张样品上一小部分区域，这种微小变化可能会呈现测试结果的差异。LAB-X5000配备有样品自旋器，该自旋器在X射线管和探测器上方旋转样品，以测试更宽的区域并获得平均读数。无论样品在分析仪中的位置如何，操作员都能就该样品获得相同的结果。

4、专用设计：坚固、快速且易于使用

本设备尺寸小巧，可以安装在工作台上，并且坚固耐用，能够承受典型的生产环境，从而*大限度地延长正常运行时间。*少的操作员培训：只需使用所提供的盘形铣刀即可制备样品。操作员只需将纸盘放入支架中，并将支架放入分析仪，然后按下启动按钮。屏幕上会在数秒内显示初始结果。此外，也可以显示合格和不合格消息，从而消除了操作员解释结果的需要。测量完成后，设备发出蜂鸣声，提醒操作员设备已准备好测量下一份样品。

5、强大的数据管理

LAB-X5000能够储存*多100,000条测量结果（以及相关光谱）。您可以在集成打印机上打印结果，或者将结果传输到USB存储装置。此外，还可以通过Wi-Fi将结果自动传输到我们的ExOpe Connect云服务，并通过任何计算机实时管理数据。无需靠近分析仪即可查看结果，并创建和共享结果。甚至可以通过一个云账户访问来自多个日立分析仪的数据，从而全面了解您的测试操作。

LAB-X5000使得离型膜行业能够执行精确、快速吞吐量和低成本的测试，使生产商在保持利润率的同时更容易满足产品规格。

6,  99%以上的行业占有率