扫描与透射电子显微镜的效果有什么不同？

1、1932年，鲁斯卡发明了以电子束为光源的透射电子显微镜（TEM）。电子束的波长远短于可见光和紫外光，电子束的波长与发射电子束电压的平方根成反比。也就是说，电压越高，波长越短。目前TEM的分辨率可达0.2nm。它与成像原理基本相同，区别在于前者以电子束为光源，以电磁场为透镜。此外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本必须制成厚度约50nm的超薄切片。这种切片需要用（超薄切片机）制作。电子显微镜的放大倍数可达近百万倍，由电子照明系统、电磁透镜成像系统、记录系统、电源系统五部分组成。 2.（扫描电子显微镜，SEM）于1960年代问世，用于观察试样的表面结构。其工作原理是用极细的电子束扫描样品，激发样品表面的二次电子。二次电子的数量与电子束的入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关。探测器被那里的闪烁体收集并转换成光信号，再通过和放大器转换成电信号，以控制荧光屏上电子束的强度，并显示与电子束同步的扫描图像。图像为三维图像，反映了试样的表面结构。为了使试样表面发射二次电子，在试样固定脱水后，喷洒一层重金属颗粒，重金属在电子束的轰击下发射二次电子信号。目前分辨率为6-10nm，人眼可以分辨荧光屏上相距0.2mm的两个光点，因此*大有效放大倍数为0.2mm/10nm=20000X。 ‍