CH-1-S测厚仪（薄膜专用）

CH-1-S薄膜测厚仪，薄膜测厚仪，测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86  
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）.

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