CH-1-ST 1/1000塑料薄膜片台式测厚仪
产品介绍
本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片。
本测厚仪执行GB6672-86国际并等效符合国际标准ISO4593-1979。
CH-1-ST 1/1000塑料薄膜片台式测厚仪
CH-1-ST 1/1000
CH1ST 1/1000
硅表 9210 硅表9210云南 ·西藏 ·陕西 ·甘肃
9210硅表用于连续监测高纯水、锅炉给水和半导体过程超纯水中的痕量硅。 - 连续的、高稳定性的测量
- 自动的双点校准
- 量程为0-1000ppb
- 重现性为±0.5ppb或测量结果的±2%
- 壁挂式或面板式安装
- 试剂稳定,45天更换一次
硅表9210 硅表9210
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