JB-60D-数显恒速搅拌机-北京同德创业科技有限公司

数显恒速搅拌机

数显恒速搅拌机 型号：JB-60D
工作原理

本设备采用电子恒力调速线路，数字直接显示转轴转速。能适应实验室不同的试验需要，并可根据显示的转轴速度直接计算搅拌、分散、的线速度及化学反应速率之间的关系，为大规模投产提供正确的工艺数据。

本机的搅拌头在电机的高速驱动下，产生旋转切向高线速度，物料在巨大的离心力作用下，产生强大的液力剪切和高频机械效应，使流体物料每分承受上千次的剪切和高频机械效应，从而达到效率混合、分散、的效果。

适用范围和主要技术参数

本机适用于在容器内进行流体物料实验。

主要技术参数：

型号	JB60D	JB90D	JB120D	JB200D	JB300D
输出功率	60W	90W	120W	200W	300W
额定电压/频率	220V 50HZ
调速范围	100-2000r/min、100-3000r/min、100-4000r/min（任选一款）
搅拌棒	￠8×300mm （不锈钢搅拌浆）
搅拌机外型尺寸 (长×宽×高）	350×250×750mm
净重	12kg	13kg	13.5kg	14kg	14.5kg

主要构造

本机主要由以下几个部件组成：

1、电机

2、智能控制仪（触摸式按键，可随意控制转速）

3、不锈钢搅拌棒

4、开放式支架.

5、固定夹及万用夹具

产品名称：数字式硅晶体少子寿命测试仪少子寿命测试仪
产品型号： LT-100C

数字式硅晶体少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号： LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。
      该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。

LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：
1、可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、  可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围     0.25μS—10ms