二合一数字式四探针测试计
产品说明
SX1934D型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，适用于半导体、太阳能行业的筛选。
产品特点
二合一数字式四探针测试计 仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点(自动调零)。可鉴别半导体PN类别。
详细参数
型号 | SX1934D |
测量范围 | 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω，可鉴别半导体PN类别 |
外形尺寸 | 主机 173mm（D）×80 mm（W）×30mm（H） |
电源 | 交直流两用（内置锂电池）功 耗：<1W； 电源充电器：输入:220V±10% 50Hz； 输出:DC5V±10% |
摩擦系数测试仪型号：STF-C |
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