产品简介
键 盘：12键按键测量范围：界面波-底波(P-E)方式： 0.63－508mm带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm多层测量(PECT)方式： 0.63－508mm(基体) 0.01－2.54mm(表面涂层)
详情介绍
CMX多层厚度测厚仪 - 多种测量方式：
- 模式一：仅测量基体厚度
- 模式二：仅测量涂层厚度
- 模式三：同时测量基体和涂层的厚度
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- 多种显示模式
- 1. 数字式显示
- 2. B扫描显示
- 3. A扫描显示（仅CMX DL+）
- 增益可调节：超低、低、中、高、超高
- 增益值zui高可到110dB
- 自动增益控制（AGC）
- 时间增益校正（TCG）
- 探头自动识别，自动调零和温度补偿
- 数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
- 可存储64个用户参数设置
- 高速扫查（50次/秒）
- 高达140HZ的脉冲重复频率
- B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
- A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
- 差值测量模式
- 高速扫查功能可用于快速找到壁厚的zui小值
- 上/下限声光报警功能
- zui大值、zui小值显示
- 可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
CMX多层厚度测厚仪性能参数
键 盘：12键按键
测量范围：界面波-底波（P-E）方式： 0.63－508mm
带自动温度补偿的界面波-底波（PETP）方式： 0.63－508mm
多层测量（PECT）方式： 0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量（E-E）模式： 2.54—102mm（因涂层的不同会有所变化）
仅测量涂层（CT）模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
显示精度：0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）
声速范围：1250－13995m/s
工作温度：-10℃—60℃
探头类型：1—10MHZ双晶探头
探头接口：LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口：RS232接口（配备USB转RS232接头）
电池工作时间：150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）
省电功能：5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏：62╳45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）
外观尺寸：63.5X165X31.5MM
重量：382克
外壳：合金外壳
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