T550S镀层测厚仪

T550S 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材 料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料 检验和生产流程监控。

技术参数

工作特点

²测量 5 层 (4 层镀层 + 底材层 ) 镀层，同时分析 15 种元素， 自动修正 X 射线重叠谱线

²测量精度高、稳定性好，测量结果精确至 uin

²快速无损测量，测量时间短， 10s 内得出测量结果

²可分析液体、平面、异形件；定性、半定量和定量分析

²材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析

²强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值等

²结果输出：直接打印或一键导出到 PDF、Excel 文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等

²测量位置预览功能；高分辨率彩色 CCD 样品观察系统，标准光学放大倍数为 30 倍

²提供服务及技术支持

产品性能

稳定性: T550S 有着良好的长期稳定性，不需要经常校准仪器。

无需制样: 无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

综合性能: 镀层分析 / 定性分析 / 定量分析 / 异形件分析 / 统计功能

应用领域

可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED 支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、 首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析，低成本、高效率。

电子行业

确保元件可靠性,测量焊料合金成分和镀层厚度

优化质量控制,确保产品生命期

如:分析导电性镀层金、钯厚度;测量电脑硬盘上的NiP层的厚度

五金电镀行业

快速简单的分析,同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析

最多分析4层镀层