该款贵金属检测仪XF-S7是西凡西凡仪器2020全新款，一款可以测戒指内圈成分的贵金属检测仪，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款配置的全元素检测仪。它配备了进口Fast SDD探测器拥有十多项研发，性能突出，采用进口Fast SDD探测器，搭载ARM Cortex-A53四核处理器，Linux操作系统。
贵金属检测仪XF-S7的主要参数：
核心特征：可测戒指内圈+高精确度±0.01%
精确度: ±0.01%
整机分辨率：130±5eV
探测器： 进口Fast SDD探测器
适用温度： -11~46℃
规格尺寸：467×370×336(mm)
样品腔：310×248×124(mm)
主体结构：高强度金属支架+铝合金外壳
电脑操作系统：ARM 四核+Linux
热敏打印机：支持
天平/密度仪：支持
电池支持：否
样品可视：支持（铅玻璃）
电压： 100V～240V
额定功率：150W
重量：40公斤
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