在贵金属检测领域，传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测，具有消耗性和危险性，且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技制造的金银检测仪引用的就是X射线荧光光谱法这种的贵金属检测技术。
黄金检测仪XF-A6是西凡科技根据多年的贵金属检测技术和经验，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款配置的全元素检测仪。它配备了进口SDD或Si-PIN探测器，采用航空设计，大气，拥有十多项研发，性能突出，体积小重量轻，符合新国标GB18043-2013，可对金银首饰进行准确检测。
这是一款便携式黄金检测仪，体积小重量轻，外观紧凑美观，重量小，可便携，样品腔自带铅玻璃，纯金属机身打造。占用空间小。适用于小空间客户。
黄金检测仪XF-A6技术参数
设备原理：X荧光能量色散
精确度: SI-PIN ±0.05%；SDD 0.01%
整机分辨率：145±5eV
探测器： 进口Si-PIN/SDD可选
适用温度： -11~46℃
内置电容触摸LED屏：是（9.7吋OLED）
支持仪器尺寸：:312x480x310mm
测试室尺寸：300x240x110mm
天平/密度仪：支持
是否电脑：电脑一体机
电压： 100V～240V
额定功率：160W
重量：20公斤
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