形位公差测量系统用于产品的外形尺寸、高度、段差等的测量与分析，包括微位移传感器和变送器两部分，变送器可
配备多只小量程的位移传感器，变送器对采集到的位移传感器信号进行分析处理，得到被检测的产品的外观尺寸数
据，同时给出结构尺寸是否合格结果，如果需要还可以进一步给出修正的相关信息
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形位公差测量系统用于产品的外形尺寸、高度、段差等的测量与分析，包括微位移传感器和变送器两部分，变送器可 配备多只小量程的位移传感器，变送器对采集到的位移传感器信号进
形位公差测量系统用于产品的外形尺寸、高度、段差等的测量与分析，包括微位移传感器和变送器两部分，变送器可
配备多只小量程的位移传感器，变送器对采集到的位移传感器信号进行分析处理，得到被检测的产品的外观尺寸数
据，同时给出结构尺寸是否合格结果，如果需要还可以进一步给出修正的相关信息
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