Scios™ 是一款超高分辨率DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，适于学院、科研院所环境中的纳米量级研究与分析。
高级检测技术是Scios 的核心技术。透镜内Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时间还能形成鲜明的对比度，从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率，使您可以根据信号的角分布选择信号，从而轻松分离材料和形态对比度，即使着陆能量为20 eV 也是如此。
Scios 的材料科学应用
Scios DualBeam 特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料，能够：
l 执行高分辨率、高对比度成像，对磁性样本也不例外
l Trinity 检测套件同步检测材料、形态和边缘对比度，从而分析材料的全部属性
l 借助漂移抑制光刻，无需制备样本即可制作具有位置特异性的切片，甚至可以对非导电材料进行操作
l 生成三维数据立方体确定金属中夹杂物的大小和分布，或对裂纹各个方向的应力和应变进行分析
l 搭配EasyLift™ 可快速可靠地制备高质量样本，而且只需微量的电子束能量即可获得更高质量的S/TEM 结果
l 针对DealBeam TM 常见应用提供“用户指南”和逐步工作流，使得任何经验水平的操作员都能即刻上手
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