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光学轮廓仪/白光干涉仪/MicroXAM-800 Optical Profiler 参考价 ￥面议
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品牌 型号 MicroXAM-800 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 4 光学轮廓仪/白光干涉仪/MicroXAM-800OpticalProfilerMicroXAM-800是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪，采用相位扫描干涉技术（PSI）对纳米级特征进行测量，以及采用垂直扫描干涉技术（VSI）对亚微米至毫米级特征进行测量对比
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Nano Indenter® G200纳米级机械测试仪器 参考价 ￥面议
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品牌 型号 Nano Indenter® G200 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 8 NanoIndenter®G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计对比
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光学轮廓仪/3D显微镜 Zeta-300 参考价 ￥面议
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品牌 型号 Zeta-300 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 4 光学轮廓仪/白光干涉仪/Zeta-300OpticalProfilerZeta-300支持3D量测和成像的功能，并提供整合隔离工作台和灵活的配置，可用于处理更大的样品对比
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T150 UTM拉伸测量仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 T150 UTM 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 4 产品详细主要应用提供选项相关产品产品描述T150UTM具有一个电磁传感器，可用作称重传感器，能在很大的应变范围内提供高灵敏度测量对比
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NanoFlip纳米压痕仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 NanoFlip 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 2 NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量对比
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白光共聚焦轮廓仪MICROMESURE 2 参考价 ￥面议
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品牌 型号 MICROMESURE 2 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 5 白光共聚焦轮廓仪MICROMESURE2产品主要特点:NoncontactdimensionalmeasurementNanometricandMicrometricresolutionsWhitelightsensor(nospeckle对比
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iNano®纳米压痕仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 iNano 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 4 iNano®纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料对比
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光学轮廓仪Profilm3D-200 参考价 ￥面议
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品牌 型号 Profilm3D-200 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 3 Profilm3D-200型光学轮廓仪Profilm3D-200光学轮廓仪的测量技术包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)；Profilm3D-200都已标配200mm自动化X/Y平台；Profilm3D-200标配10倍物镜就可以提供2mmX1.7mm的视场大小，配合数字变焦功能有助于缓解不同应用时切换多个物镜的需要，进一步减少总体成本对比
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iMicro纳米压痕仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 iMicro 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 4 iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬涂层，薄膜和少量材料对比
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光学轮廓仪Profilm3D 参考价 ￥面议
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品牌 型号 Profilm3D 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 3 Profilm3D型光学轮廓仪Profilm3D都已标配100mm自动化X/Y平台；Profilm3D光学轮廓仪的测量技术包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)；Profilm3D的直观软件包括表面粗糙度，形状和台阶高度的测量对比
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光学轮廓仪/3D显微镜 Zeta-20 参考价 ￥面议
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品牌 型号 Zeta-20 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-08-18 浏览次数 5 光学轮廓仪/白光干涉仪/Zeta-20OpticalProfilerZeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能对比
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PerkinElmer Optima 2100DV/全谱直读等离子体发射光谱仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-31 浏览次数 2 ICP-OES可以分析元素周期表中金属元素，检出限在1ppb以下。同时可以分析非金属元素，例如As、Se、P、S、Si、Te等，检出限低于10ppb，如果配合使用氢化物发生器，这些非金属的检出限可以稳定提升对比
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Perkin Elmer PinAAcle 100/200/300/400/500/600/700/800原子吸收光谱仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-31 浏览次数 3 Perkin Elmer PinAAcle有着耐用性，长使用寿命，低维护成本;将为您的实验室带来稳定的生产对比
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电感耦合等离子质谱仪PE optima 330 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-31 浏览次数 8 由等离子体发生器，雾化室，炬管，四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管(称为离子探测器或收集器)组成。其工作原理是:雾化器将溶液样品送入等离子体光源，在高温下汽化,解离出离子化气体,通过铜或镍取样锥收集的离子,在低真空约133.322帕压力下形成分子束,再通过1~2毫米直径的截取板进入四极质谱分析器，经滤质器质量分离后，到达离子探测器，根据探测器的计数与浓度的比例关系,可测出元素的含量或同位素比值对比
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珀金埃尔 默Perkin Elmer Elan 6000/9000/DRC-II/ DRC-E电感耦合等离子体质谱仪 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-31 浏览次数 5 珀金埃尔默Perkin Elmer Elan 6000/9000/DRC-II/DRC-E电感耦合等离子体质谱仪对比
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光学轮廓仪Zeta-20 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-02 浏览次数 3 Zeta-20是采用ZDot™技术和Multi-Mode光学系统的非接触式表面轮廓测试系统。对比
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白光干涉仪Profilm3D 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-02 浏览次数 5 结合垂直扫描干涉 (VSI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济型非接触式光学轮廓仪对比
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光学轮廓仪Zeta-300 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-07-02 浏览次数 4 Zeta-300是采用ZDot™技术和Multi-Mode光学系统的落地式非接触式表面轮廓测试系统。对比
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小型真空探针台高温热台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 3 简要描述：小型真空探针台高温热台KT-0904T-R主要用于为被测芯片提供一个高温的变温测量环境，以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。对比
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高温热台小型真空探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：高温热台小型真空探针台KT-0904T-R在高温真空环境下的芯片测试、LD/LED/PD测试、光纤光谱特性测试、材料/器件的IV/CV特性测试、霍尔测试、电磁输运特性、高频特性测试等对比
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精密气震平台配真空高低温探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：精密气震平台配真空高低温探针台，不锈钢腔体，-196℃至350℃温控，探针尖10μm，光学隔振平台由钢质蜂巢内核、顶板及底板组成，在降低重量的前提下提供了足够的硬度。光学隔振平台顶板为高导磁性不锈钢材料，底板为碳钢板，四周侧板内层为碳钢板外层为黑色铝塑板。对比
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桌式气浮隔振平台配微型探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：桌式气浮隔振平台配微型探针台KT-Z4019MRL4T，300X300X170（mm） 气浮隔振+阻尼隔振+橡胶减震底脚，-196℃至350℃微型高低温探针台，小巧轻便，功能齐全。对比
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气震台配便携式真空探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 3 简要描述：气震台配便携式真空探针台，气震台充气后以充气和放气来调整水平，平板大小探针台，设计精巧，功能齐全，温控-196℃至350℃对比
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超小版探针台外配减震 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：超小版探针台外配减震，内腔尺寸137X57X21mm，温控范围-196℃-350℃，可透光进行透射光谱测试对比
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中型高低温探针台外配减震台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：中型高低温探针台外配减震台，整体平板大小，体型小功能齐全，温控-196到350℃对比
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小型真空探针台 太阳能电池测试夹具 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：小型真空探针台 太阳能电池测试夹具，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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常温半导体测试 气敏测试 大气探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：常温半导体测试 气敏测试 大气探针台是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。对比
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大气探针台 电信号测试 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 3 简要描述：大气探针台 电信号测试是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。对比
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常温探针台 电信号测试 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：常温探针台 电信号测试 是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。对比
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科研小型气敏测试真空探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：科研小型气敏测试真空探针台，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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制备LK-99 可选用 微型探针太台测试材料 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 3 简要描述：制备LK-99 可选用 微型探针太台测试材料，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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超导体材料lk99 可用真空探针台测试材料 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：超导体材料lk99 可用真空探针台测试材料，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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超导体材料研究 真空高低温液氮探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：超导体材料研究 真空高低温液氮探针台，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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高低温微型探针台电信号测试 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：高低温微型探针台电信号测试，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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气敏测试真空腔体微型探针台台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：气敏测试真空腔体微型探针台台，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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电信号测试真空微型探针台 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：电信号测试真空微型探针台，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）对比
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常高低三温自动探针台设备 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 5 简要描述：常高低三温自动探针台设备主要应用于传感器，半导体，光电，集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。对比
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大型真空高低温探针台郑科探 参考价 ￥面议
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品牌 型号 类型 半导体设备 厂商性质 其他 更新时间 2024-03-31 浏览次数 4 简要描述：大型真空高低温探针台郑科探，高低温探针台系统达到≤10Pa即可进行低温测试而无凝露或结霜。对于选用了入门级配置的用户，可选用双极旋片式机械泵即可达到目标真空度，从而减少设备的配置预算对比
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