梅特勒XP204分析天平工作原理
梅特勒XP204分析天平产品特点：
zui大限度地减少静电荷
我们的 StaticDetect 静电检测技术可检测样品或其容器上的静电荷。 如果称量错误过用户定义的限值，则出现警告；然后可以采取防静电措施。 为了获得过程安全性，可锁定称量结果的发布。
用户引导过程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现??过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。
结果可靠
越系列分析天平将获得的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得的称量结果！
无需接触天平的操作
越系列分析天平采用人体工程学设计，旨在尽量使您的生活变得轻松。 SmartSens™ 红外感应器可使您挥一下手即可进行操作，使称量任务更加轻松，避免交叉污染问题（例如：打开/关闭防风罩门）。
易于清洁
凭借的网格秤盘和可在数秒钟内拆卸的防风罩，始终确保称量区域清洁、安全。
梅特勒XP204分析天平工作原理
梅特勒XP204分析天平技术参数：
型号 | XP105DR | XP204 | XP205 | XP205DR | XP504 |
zui大称量值 | 120g | 220g | 220g | 220g | 520g |
精细量程的zui大称量值 | 31g | …… | …… | 81g | …… |
可读性 | 0.1mg | 0.1mg | 0.01mg | 0.1mg | 0.1mg |
精细量程的可读性 | 0.01mg |
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| 0.01mg |
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重复性：正常加载(sd) | 0.06mg（100g） | 0.07mg（200g） | 0.03mg（200g） | 0.06mg（200g） | 0.12mg（500g） |
重复性：微量加载 | 0.05mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.015mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.01mg（10g） |
重复性：精细量程微量加载 | 0.015mg（10g） | …… | …… | 0.015mg（10g） | …… |
线性 | 0.15mg | 0.2mg | 0.1mg | 0.15mg | 0.4mg |
四角误差 | 0.2mg（50g） | 0.25mg（100g） | 0.2mg（100g） | 0.25mg（100g） | 0.4mg（200g） |
灵敏度漂移 | 4x10-6 | 3x10-6 | 2x10-6 | 2.5x10-6 | 3x10-6 |
灵敏度温度漂移（10-30°C） | 1x10-6/°C | ||||
接口更新速率 | 23/s | ||||
天平外型尺寸 | (W×D×H mm)263×486.5×322 | ||||
秤盘尺寸(W×D mm) | 76×73 | ||||
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