晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置
晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置
产品介绍：
当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。
*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！
UIH-1C型规格
京都玉崎 * INTECS英特斯现货超高亮照明装置UIH-1C
UIH-2D型规格
*1 为了保护灯泡，即使在主电源开关关闭的情况下
，仍可通过风扇维持冷却直至灯室内温度降至约 40℃ 以下的功能。
深圳市京都玉崎电子有限公司
标准会员·1年
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晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置一般来说会使用半导体晶圆或玻璃屏等进行目视观察，为了能观测到划痕，尘埃，内部异物以及气泡等，则需要一定的熟练度。而研发本设备的目的，正是为了使此类检查变得更加简易化。将高亮光照射在对象物品（半导体晶圆，玻璃屏，光学部件，透镜等）上，通过所产生的丁达尔现象，可确认划痕，尘埃，内部异物以及气泡等。
晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置
晶圆检测目视用雾度检查用UIH-3D照明装置
产品介绍：
当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。
*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！
京都玉崎 * INTECS英特斯现货超高亮照明装置UIH-1C
*1 为了保护灯泡，即使在主电源开关关闭的情况下
，仍可通过风扇维持冷却直至灯室内温度降至约 40℃ 以下的功能。
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