ChipMaster手持式数字集成电路测试仪

循环测试-判定间歇性故障元器件更准确

采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.


特点：

·操作简单方便
·内置元器件库可扩充升级
·未知IC型号查找
·显示单个管脚故障诊断信息
·元件代换查询
·可选SOIC和PLCC适配座
·可选编程软件与PC实时通讯测试
·电池与直流供电
·可以选择不同封装的测试座

功能:

Single-对测试座上的IC进行单次测试.
Loop-无论结果如何,重复进行测试
P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试
F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试
Search-识别测试座上IC的型号
Diags-进行自我诊断测试
CmLink-进入CompactLink 软件通讯模式
Sw Off-将本仪器关机

专业的CompactLink编程通讯软件(选配件)

1.可以扩充元件库的编程软件;
2.与PC实时通讯测试软件;
3.允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;
4.软件采用PremierLink IC编程(PLIP);
5.高水平的测试编程描述语言;
6.佳的模拟和数字测试程序;
7.可通过RS-232或者USB接口连接电脑;
8.本软件适合于ChipMaster和LinearMaster;