S1 TURBO LE是一台配置了XFlash®硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪，检测器能量分辨率高达140eV，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下，无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si，镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。
优点
无损、定量分析
快速、便携、可靠
能够分析S、P、Al, Mg, Si
可编辑用户数据库
测量元素范围可低至Mg(12)
微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析
高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素
PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的元素测量。
NASA/Bruker共有砖利-无真空－无氦气消耗，精度可靠
功能模块
定量分析
牌号识别
混料识别
合格与否判定
图谱显示
石油化工
航空航天
钢铁
电站电厂
锅炉压力容器
机械制造与加工
金属回收与分类
贵金属
矿石/土壤/玩具/RoHS
技术规格 | |
重量 | 1.5kg |
尺寸 | 30cm(L)x10cm(W)x28cm(H) |
激发源 | X射线管，Ag靶，40kV |
检测器 | XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快； 能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps |
操作系统 | HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 专用软件 |
冷却系统 | Peltier 电子冷却系统 |
电源 | 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时 |
工作条件 | 温度范围：-20℃～+55℃；湿度范围：0～95% |
电池充电器 | 交流充电器：110/220V，50/60Hz |
计算机/显示器 | 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 |
测量模式 | 牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定 |
数据传输 | USB，无线蓝牙，SD卡 |
数据存储 | 主机：512MB 存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据 |
安全 | 密码保护，设有多级安全锁 |
运输箱 | 减震、抗压、防水、密封仪器箱 |
支持语言 | 包括中、英文在内的12种语言(用户自选) |
质保期 获得证书 | 整机2年 CE、TUV、ISO9001，IECEE |
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