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西凡仪器（深圳）有限公司

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XF-P3镀层测厚仪

XF-P3镀层测厚仪

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  • 联系人：

产品分类品牌分类

产品简介

详情介绍

测试范围

铝Al(3)～铀U(No.92)

检测精度

相对误差±1.5%（镀层）,±0.01%(成分)

XY平台

轻松多点测试超小样品,行程：30mm×30mm

多层分析

可支持至多十层检测

智能算法

同时分析镀层厚度和成分

多准直器

0.1*0.2mm/0.2*0.5mm/Φ1.0mm

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