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当前位置:深圳市秋山贸易有限公司>> AFM-30日本AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机

日本AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:AFM-30
  • 品牌:
  • 产品类别:其他
  • 所在地:深圳市
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2024-05-11 17:22:56
  • 浏览次数:1
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  • 电    话:13823147203

暂无信息

产品简介

1.是结合了光切断的狭缝图像观察和点光图像的AF(自动对焦)追踪的新型深度高度测量机。2.通过连续追踪AF驱动,可实现高精度重复测量,操作性好,速度快。3。由于是一边观察狭缝图像映射出的台阶形状一边进行测量的方式,因此可以实时识别测量画面上的高低,可以容易地判断需要测量的部位。4.测定点处的狭缝图像·点光像·电子线基准线的中心全部一致的测量系统,通过检查偏差,可以防止用错误的数值进行测量。5.光切断的仰角除了标准的90°外,还可以根据用途选择导入30°60°120°。

详情介绍

主要规格

観察方法

光切断方式(利用狭缝光学系统测定深度高度)

■物镜

固定倍率10倍(5倍、20倍)

軸駆動方式

基于点光的AF连续追踪方式(离线时可手动测量)

投射缝隙

10um半反光镜型

Z轴测量

Z轴数字线性仪表0.1阅读

重复精度

~1微米以内

使用光源

半导体激光器(类2)、卤素光源

自动捕捉表示截面形状的细狭缝光、红色激光斑点、阶梯差的变化,Z

轴功能迅速跟随,进行测定数值的数字显示(自动聚焦)·系统)功能

与电子线方式的基准线相结合,扩大了测量范围,提高了利用价值,是

新型的深度高度测量机。


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