随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　Ux-720 仪器技术指标

　　1、分析元素范围：Na-U

　　2、检测成分范围：%

　　3、检测厚度：1nm

　　4、检测厚度上限，30 - 50um（视材料而定）

　　5、检测镀层层数：1-10层

　　6、测量时间 ：30-150s ( 系统自动调整 )

　　7、分辨率：145±5eV

　　8、准直器：Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

　　9、滤光片：5种滤光片自动切换

　　10、CCD观察：260万像素高清CCD

　　11、样品微动范围：XY15mm

　　12、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

　　13、样品腔尺寸：300*360*100mm；

　　14、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

　　15、额定功率：350W

　　16、重量：约45Kg

　　17、工作环境温度：温度15—30℃

　　18、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

　　19、稳定性:多次测量重复性误差小于%

　　Ux-720高分辨率CCD

　　260万像素的高清CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。

　　Ux-720仪器标配设备参数

　　1、计算机

　　CPU：intel双核 内存:2G

　　硬盘：500G 显示器：19英寸

　　2、喷墨打印机

　　彩色喷墨印机

　　3、仪器随机配件及技术资料

　　测试薄膜 50片

　　保险管 五个

　　保修卡 一份

　　合格证 一份

　　仪器操作手册 一本

　　辐射安全检测报告 一份