Ux-2100 Plus开放式工作曲线
符合国标要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用标准物质制作工作曲线，应对其他样品的测试。测试条件同样开放,用于设置对应样品的测试需求。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn种元素，分析速度快。
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Ux-2100Plus开放式工作曲线 符合国标要求(GB/T3352-2016),如果有特殊需求，使用标准物质制作工作曲线，应对其他样品的测试
Ux-2100 Plus开放式工作曲线
符合国标要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用标准物质制作工作曲线，应对其他样品的测试。测试条件同样开放,用于设置对应样品的测试需求。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn种元素，分析速度快。
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