Ux-2100 Plus通过《GB/T33352-2016电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法》专业级认证，应用于RoHS/ELV管控的有害元（Pb），汞（Hg），镉（Cd），铬（Cr），溴（Br）和氯（Cl）的检测，在电子电器、汽车、医疗和包装等行业有着非常广泛的应用。

　　由光源激发样品所产生的特征X射线直接进入探测器，探测器将光信号转化为电信号，由主放大器输出的脉冲传送到ADC（模数转换器），脉冲幅度的模拟信号在这里转换成数字信号，产生的数字作为与多道分析器（MCA）连接的地址，然后根据这些地址分检不同的脉冲即X射线的能量，并记录相应的脉冲数目。

　　采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn种元素，分析速度快。

　　元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：

　　λ=K(Z? s) ?2

　　式中K和S是常数。

　　而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：

　　E=hν=h C/λ

　　式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

　　因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。