Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　Ux-720滤光系统和准直系统

　　滤光系统采用金属薄片滤光技术，5种不同材质滤光片自动切换。

　　准直系统采用微孔准直技术, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四种孔径自动切换。

　　滤光系统和准直系统经过自由组合达到测试效果。

　　Ux-720 精密镀层分析仪X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯的VisualFp基本参数法分析软件，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。