二手镀层测厚仪器、二手电镀测厚仪、金属镀层测试仪-镀层厚度测量，X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　Ux-720微动平台

　　载物测试平台，微调装置在仪器右侧，通过旋转按钮来调节样品的移动，移动范围为X轴和Y轴各15mm。结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行定位，防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致测试不准确。