镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

　　Ux-720滤光系统和准直系统

　　滤光系统采用金属薄片滤光技术，5种不同材质滤光片自动切换。

　　准直系统采用微孔准直技术, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四种孔径自动切换。

　　滤光系统和准直系统经过自由组合达到测试效果。

　　Ux-720 仪器技术指标

　　1、分析元素范围：Na-U

　　2、检测成分范围：%

　　3、检测厚度：1nm

　　4、检测厚度上限，30 - 50um（视材料而定）

　　5、检测镀层层数：1-10层

　　6、测量时间 ：30-150s ( 系统自动调整 )

　　7、分辨率：145±5eV

　　8、准直器：Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

　　9、滤光片：5种滤光片自动切换

　　10、CCD观察：260万像素高清CCD

　　11、样品微动范围：XY15mm

　　12、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

　　13、样品腔尺寸：300*360*100mm；

　　14、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

　　15、额定功率：350W

　　16、重量：约45Kg

　　17、工作环境温度：温度15—30℃

　　18、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

　　19、稳定性:多次测量重复性误差小于%

　　Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps