电子产品温高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

工作室尺寸：

350×400×350（mm）；

500×400×400（mm）；

600×500×500（mm）；

700×600×600（mm）（W×H×D）

外形尺寸：以选择每款工作室尺寸的实际外形尺寸为标准。

追高温冲击范围：  150℃

追低温冲击范围：  -65℃

高低温冲击范围有：-40℃～+150℃;-55℃～+150℃;-65℃～+150℃;

高温室储存追高温度范围: 60℃～+200℃;

低温室储存追低温度范围: 60℃～-75℃;

高温室升温时间：+20℃～+200℃约60分钟

低温室降温时间：+20℃～-75℃约100分钟

温度恢复时间: 3~5min（追快转换时间在10秒钟内可完成）

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：  ≤±2℃

电子产品温高低温冲击试验箱**装置:

配有:超温保护;压缩机超压;过载;过流保护;风机过载保护相序保护,漏电保护;

电源:AC380V50Hz

实验用低温冲击箱|实验用高低温冲击试验箱根据实验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于实验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和实验室，产品在测试时是放置在实验室