Sinton BLS-I少子寿命测量仪

BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

Sinton 少子寿命测量仪，BCT-400测试硅锭，BLS-I测试硅棒，Sinton X-闪光灯头，Sinton X5D闪光灯头，Sinton X闪光灯座。

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

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客户：中山大学、浙江大学、河南大学、西安隆基、常州比太、阿特斯、浙江晶科、晶澳、吴刚玻璃等到等